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基于CMOS平板探測器的X-Ray全自動盤料點數(shù)機應用

來源:先鋒科技(香港)股份有限公司

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所屬頻道:新聞中心

關鍵詞:CMOS 平板探測器 盤料 點數(shù)機

    X-RAY盤料點數(shù)機:

    面向電子行業(yè)領域阻容類物料和IC類物料等的物料計數(shù)。

    一、基于X-Ray的盤料點數(shù)機和傳統(tǒng)點料機區(qū)別

    X-RAY盤料點數(shù)機的操作軟件功能豐富且簡便易學,軟件根據(jù)產(chǎn)品類型自動進行圖像判斷計數(shù);同時可選擇手動或自動將物料類型、計數(shù)結果、檢測時間、掃描次數(shù)等數(shù)據(jù)保存到本機數(shù)據(jù)庫;可提供數(shù)據(jù)查詢功能;并提供手動保存產(chǎn)品圖像等功能。

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    傳統(tǒng)的點料方法:

    1.原理:

    傳統(tǒng)的盤裝電子物料點數(shù)方法是將料盤上封裝的物料一端拉出,連接到帶有收料盤的裝置上,經(jīng)過不同方式的傳感器,通過對封裝物料相鄰間差異的識別實現(xiàn)物料個體封裝的識別和計數(shù),從而實現(xiàn)物料點數(shù)工作。

    2.局限性:

    (1)此種方式點數(shù)周期長,若提高收料裝置的牽引速度,可以一定程度上提高效率,但對物料包裝的要求較高,以確保料帶能夠承受較大的拉力,物料的包裝成本需要提高,所以由于牽引速度的限制,制約了點料速度的提高;

    (2)若封裝空間里沒有物料,此種方法會出現(xiàn)誤判,從而影響點數(shù)精確度。

    X-Ray點料方法:

    利用X光大角度透視的原理,得到盤料的X-Ray圖像,通過軟件分析,得到計數(shù)結果,相比傳統(tǒng)的點料方式,大大的提高了工作效率,節(jié)約人工成本。

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    原理示意圖

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    X-RAY盤料點數(shù)機重點構件:CMOS平板探測器

    針對X-Ray點料機應用,先鋒科技(香港)股份有限公司可以提供高靈敏度和高動態(tài)范圍的CMOS平板探測器,滿足您多方面的需求。

    CMOS平板探測器,我們提供多種感應面積供選擇,有12cmx7cm;15cmx12cm;23cmx7cm;23cmx15cm;29cmx23cm.最小像元尺寸75um。

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    (審核編輯: 智匯胡妮)

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