FPGA已經(jīng)被廣泛用于實(shí)現(xiàn)大規(guī)模的數(shù)字電路和系統(tǒng)，隨著CMOS工藝發(fā)展到深亞微米，芯片的靜態(tài)功耗已成為關(guān)鍵挑戰(zhàn)之一。文章首先對FPGA的結(jié)構(gòu)和靜態(tài)功耗在FPGA中的分布進(jìn)行了介紹。接下來提出了晶體管的漏電流模型，并且重點(diǎn)對FPGA中漏電流單元亞閾值漏電流和柵漏電流進(jìn)行了詳細(xì)的分析。最后根據(jù)FPGA的特點(diǎn)采用雙閾值電壓晶體管，關(guān)鍵路徑上的晶體管采用低閾值電壓柵的晶體管，非關(guān)鍵路徑上的晶體管采用高閾值電壓柵的晶體管，以此來降低芯片的靜態(tài)功耗。

　　1引言

　　FPGA因其可以降低成本和設(shè)計周期，已經(jīng)被廣泛用于實(shí)現(xiàn)大規(guī)模的數(shù)字電路和系統(tǒng)。隨著數(shù)字電路規(guī)模越來越大，時鐘頻率越來越高，也增加了FPGA的復(fù)雜性和技術(shù)難度。在深亞微米技術(shù)下，隨著導(dǎo)電溝道越來越短，靜態(tài)功耗越來越大，F(xiàn)PGA面臨許多新的挑戰(zhàn)。本文首先簡單介紹了FPGA的結(jié)構(gòu)和靜態(tài)功耗在FPGA中的分布，接下來介紹了晶體管漏電流的原理，提出了FPGA結(jié)構(gòu)中基本單元漏電流的模型并進(jìn)行了分析，最后提出降低靜態(tài)功耗的解決措施。

　　2 FPGA的結(jié)構(gòu)和靜態(tài)功耗分布

　　2.1 FPGA的結(jié)構(gòu)和基本組成單元

　　一個FPGA的結(jié)構(gòu)如圖1所示。FPGA中含有規(guī)則靈活的可編程配置邏輯塊，簡稱CLB，在它們周圍是一圈可編程輸入輸出模塊，簡稱IOB，兩邊有兩列BRAM，位置是在CLB和IOB的中間。CLB、BRAM和IOB之間是互聯(lián)資源。

　　FPGA的功能是基于查找表LUT來實(shí)現(xiàn)的，LUT是SRAM的陣列來實(shí)現(xiàn)真值表。圖2說明了2輸入查找表的結(jié)構(gòu)。

　　FPGA的布線互聯(lián)是基于SRAM控制的可編程開關(guān)實(shí)現(xiàn)的，有三種基本結(jié)構(gòu)，如圖3所示。

　　2.2靜態(tài)功耗在FPGA不同單元中的分布

　　通過對0.25μm工藝的FPGA進(jìn)行HSPICE仿真，靜態(tài)功耗在FPGA中不同單元的分布如圖4所示。從圖中可以看出，靜態(tài)功耗主要來自配置SRAM和布線互聯(lián)，超過整個電路靜態(tài)功耗的70%.

　　3 FPGA結(jié)構(gòu)中基本單元漏電流分析

　　3.1晶體管的漏電流原理

　　晶體管的漏電流主要包括源漏之間的亞閾值漏電流（Isub）和柵漏電流（Igate），但隨著導(dǎo)電溝道的縮短，也帶來了其他的漏電流。圖5所示為在短溝道下所有的漏電流。

　　I1為pn結(jié)的反偏漏電流。

　　I2為源漏之間的亞閾值漏電流。它是在柵壓低于閾值電壓Vth時，在亞閾值區(qū)域有弱的反型而形成的電流。

　　I3為穿過柵氧化層形成的柵電流。它是由于柵氧化層厚度越來越薄，電子穿過柵氧化層產(chǎn)生的電流。

　　I4、I5分別為由于熱載流子效應(yīng)形成的從漏端到柵的電流和從漏端到襯底的電流。

　　I6為源漏之間的穿通電流，它是由于在短溝道器件下源-襯底之間的耗盡層與漏-襯底之間的耗盡層越來越靠近，當(dāng)這兩個耗盡層結(jié)合，發(fā)生穿通效應(yīng)而產(chǎn)生的電流。

　　3.2 FPGA中基本單元漏電流分析

　　在FPGA中被用來做靜態(tài)漏電流模型的基本單元有：反向器、多路選擇器、SRAM單元、LUT單元、布線開關(guān)。反向器被設(shè)計為具有相同的上升、下降時序，以及盡可能小的延遲和面積開銷。所有的多路選擇器是用面積最小的晶體管來實(shí)現(xiàn)，SRAM單元也是用面積最小的晶體管來實(shí)現(xiàn)，布線開關(guān)的晶體管在面積和延遲方面做了平衡。所有基本單元中的NMOS和PMOS都被用來考慮亞閾值漏電流，但是僅僅NMOS被用來考慮柵漏電流，因?yàn)镻MOS的柵漏電流要遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于NMOS.當(dāng)NMOS的柵端為高電平時，即有電流從柵端流向溝道，如圖6所示。

　?。╝）反向器：反向器的亞閾值漏電流在輸入分別為“0”和“1”兩個狀態(tài)時都進(jìn)行了建模，如圖7所示。當(dāng)反向器的柵為“0”時，只有亞閾值漏電流通過反向器的NMOS管，PMOS管的柵漏電流被忽略。當(dāng)反向器的柵為“1”時為柵漏電流通過NMOS，亞閾值漏電流通過PMOS管。

　　（b）多路選擇器：在FPGA中，多路選擇器是通過NMOS傳輸管結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)的。多路選擇器中的漏電流非常依靠輸入的狀態(tài)。圖8描述了一個4選1多路選擇器的結(jié)構(gòu)，當(dāng)選擇信號為（0，0）和輸入向量為（0010）時就存在亞閾值漏電流和柵漏電流，僅僅一個Q3傳輸管有亞閾值漏電流，其他三個傳輸管Q2、Q4、Q6有柵漏電流。當(dāng)保持選擇信號不變，輸入向量變化到（0110）時，就會有三個傳輸管Q1、Q3、Q5有亞閾值漏電流，兩個傳輸管Q1、Q6有柵漏電流。

　?。╟）SRAM單元：在FPGA中有大量的SRAM單元用來配置FPGA，這些SRAM在FPGA工作過程中僅僅被配置一次并且保持值不變。通常用標(biāo)準(zhǔn)的六管結(jié)構(gòu)來設(shè)計配置用的SRAM并且選擇高Vth的晶體管，因?yàn)檫@些SRAM僅僅用作只讀模式，僅配置一次。通過高的Vth來降低亞閾值漏電流就會非常重要，在很多商業(yè)化的FPGA中都選擇高Vth SRAM單元。亞閾值漏電流通過兩個背靠背連接的反向器，柵漏電流通過傳輸管中的一個，如圖9所示。

　?。╠）LUT單元：LUT查找表是有SRAM單元陣列和多路選擇器組成的。SRAM單元陣列來實(shí)現(xiàn)真值表，多路選擇器根據(jù)LUT輸入來選擇查找哪個SRAM單元。LUT的漏電流如上SRAM、多路選擇器以及反向器所述。

　?。╡）布線開關(guān)：在FPGA中有兩種結(jié)構(gòu)的布線開關(guān)，一種是BUF驅(qū)動的布線開關(guān)，另一種是傳輸管的布線開關(guān)，這兩種結(jié)構(gòu)都含有NMOS傳輸管。圖10描述了第一種結(jié)構(gòu)的漏電流情況，當(dāng)NMOS傳輸管關(guān)掉S=0，輸入In為1，輸出Node同樣為1時，亞閾值漏電流通過反向器的PMOS管和傳輸管NMOS，柵漏電流通過反向器的NMOS管。

　　圖11描述了第二種結(jié)構(gòu)的柵漏電流情況，當(dāng)傳輸管柵為1，傳輸0時就會有柵漏電流。

　　在布線結(jié)構(gòu)中最后一級布線開關(guān)NMOS必須去驅(qū)動BUF，當(dāng)NMOS傳輸一個邏輯1會損失一個Vth，再去驅(qū)動BUF時將會有很大的靜態(tài)漏電流，如圖12所示。

　　為了解決這個問題，商業(yè)化的FPGA通常通過提高NMOS傳輸管的柵電壓來防止閾值電壓損失，從而降低靜態(tài)電流，如圖13所示。

　　3.3靜態(tài)功耗降低技術(shù)

　　亞閾值漏電流是靜態(tài)功耗產(chǎn)生的主要原因之一，降低亞閾值漏電流將有效地降低芯片的靜態(tài)功耗。亞閾值漏電流的解析模型如下公式所示：

　　Vt為閾值電壓，n為亞閾值擺幅系數(shù)，W為晶體管的寬度，L為長度，μ為電子遷移率，q為電子電量，Φs為硅表面勢，εsi為硅的介電常數(shù)。從式中可以看出亞閾值漏電流非常依賴閾值電壓Vt.

　　為了降低FPGA中的靜態(tài)功耗，可以采用雙閾值電壓的晶體管。對于關(guān)鍵路徑上的晶體管，如布線開關(guān)對速度要求高，采用低閾值電壓柵的晶體管。

　　對于非關(guān)鍵路徑上的晶體管，如配置SRAM，采用高閾值電壓柵的晶體管來降低靜態(tài)功耗。

　　通過對一個CLB的仿真，將非關(guān)鍵路徑上NMOS晶體管的閾值電壓從0.35 V提高到0.5 V，靜態(tài)電流將從原來的12μA降低到8μA.

　　4結(jié)束語

　　本文在分析了FPGA中靜態(tài)功耗的分布和基本單元的漏電流模型后，提出了使用雙閾值電壓的晶體管來降低整個芯片的靜態(tài)功耗。由于是在非關(guān)鍵路徑上使用高閾值電壓柵的晶體管來降低靜態(tài)功耗，所以對芯片的工作速度影響很小。